晶体管参数测试仪pcb抄板与芯片解密案例

      晶体管参数测试仪是龙人在仪器仪表设备反向解析、电路板抄板、电路板克隆、样机仿制克隆、样机制作、样机调试等反向研发领域取得的重要技术成果。

　　该晶体管参数测试仪是测量高频小功率晶体三极管特性频率fT的专用设备。该系列产品由QG21-QG25五个单机组成，fT测量的额定范围为0-4000MHz.
　　本系列产品是根据“带宽-增益乘积”的原理来测fT。从设计上满足（f/fβ）2≥1其特征频率fT就等于测量频率f与该频率下电流增益模数的乘积即 fT  = f ×︱β︱。
　　本系列产品由高频信号源、高频接收机、测量回路、中频衰减器、中频放大器、线性检波器、本机电源及测试用的电压源及电流源组成。10MHz及30MHz采用晶体高频振荡器。100MHz 200MHz 400MHz采用有源晶体高频振荡器。该系列产品操作简单测试数据准确、可靠。适用于各科研单位、半导体器件厂、半导体整机厂做特性频率fT测量。
　　龙人已通过反向工程掌握该产品的技术资料，并可提供该产品的的PCB设计、PCB抄板、芯片解密、样机制作、样机调试等方面的服务，满足客户的需求。同时，我们会根据市场需求的变化和产品的更新换代，提升该产品的功能升级和扩展，为广大客户提供定制化服务，我们期待与广大客户真诚合作，详情请咨询龙人龙人计算机系统工程有限公司，电话：0755-83676393，0755－83662911。