激光椭偏仪PCB抄板制作及二次研发

作为一家有实力的反向技术研究公司，龙人抄板工作室长期从事pcb抄板,反向解析,芯片解密,样机仿制克隆、线路板抄板、样机调试等领域的工作，在医疗设备、机械设备、自动化设备、广电设备、通信设备、仪器仪表设备、环保设备、印刷设备、家电设备、交通设备等领域成功完成了众多项目，深得客户的一致好评。激光椭偏仪PCB抄板设计与开发是深圳龙人抄板工作室在反向研究中的一个典型成功案例。

简要描述：高性能椭偏仪，针对粗糙表面硅太阳能电池的测量装置，拥有业内最高测量精确度。
 功能特点
多角度激光椭偏仪 SE400advanced使用632.8nm波长HeNe激光器，对测量薄膜厚度，折射率和吸收系数有非常出色的精度。 SE400advanced能够分析单层膜，多层膜和大块材料（基底）
■ 超高精度和稳定性，来源于高稳定激光光源、温度稳定补偿器设置、起偏器跟踪和超低噪声探测器
■ 高精度样品校准，使用光学自动对准镜和显微镜
■ 快速简易测量，可选择不同的应用模型和入射角度
■多角度测量，可完全支持复杂应用和精确厚度
■全面的预设应用，包含微电子、光电、磁存储、生命科学等领域
 技术指标
■ 激光波长632.8 nm
■ 150 mm (z-tilt) 载物台
■ 入射角度可调，步进5o
■ 自动对准镜/显微镜，用于样品校准
■ Small footprint
■ 以太网接口连接到PC
 选项
■ 微细光斑选项，光斑直径30微米
■ 手动x-y方向移动载物台，行程150 mm
■ 摄象头选项，用于取代目镜进行样品对准
■ 液体膜测量单元
■ 反射式膜厚仪FTPadvanced，光斑直径80微米
■ 双波长激光 (405 nm 或1550 nm)
■ SIMULATION软件
 软件特征
■ 预先定义应用
■ 多角度测量
■ 广泛的材料数据库
■ 拟合状况的图形反馈
■ 支持多种语言